Low Leakage Type Probe Card‍

根据Agilent公司的4071/72所专用的陶瓷PCB，可以实现1pA以下水平的测定。回路形式以四号线防护线为基准线进行覆盖，降低在基板上的泄漏电流。另外，用高电阻减少诱电吸收，高温下使用弯曲少的绝缘聚酰亚胺材料。

10V以上的印加电压的测定，使用同轴探针或微钢片、进而得到更高的指导效果。

本公司的产品在1997年由Agilent公司（日本HP半导体测量事业部）推荐，受到制造商的认可。

垂直探针卡‍

核心特点

体积小：紧凑设计适应空间受限的测试环境。
探针直径小：可精确接触芯片上密集排列的接触点。
易更换：探针可方便更换以适应不同芯片测试需求。
高针数、短针距：支持高密度探针布局，满足高阶封装测试要求。