垂直探针卡

VERTICAL PROBE CARD

垂直探针卡

VERTICAL PROBE CARD

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核心特点

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核心特点

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体积小：紧凑设计适应空间受限的测试环境。

探针直径小：可精确接触芯片上密集排列的接触点。

易更换：探针可方便更换以适应不同芯片测试需求。

高针数、短针距：支持高密度探针布局，满足高阶封装测试要求。

垂直针类型

垂直针类型


Cobra探针

1、多层陶瓷基板+双层GuidePlate设计。

2、高达万根针垂直分布。

3、自带形变量，实现高密度多站点测试。



Pogo Pin探针

1、微纳加工技术实现微型化。

2、内置微型弹簧提供稳定针压。

3、均匀接触性能和精准对位，适合半导体晶圆测试。


垂直针探卡产品

垂直针探卡产品